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山田光學(xué)鹵素燈光源裝置
山田光學(xué)鹵素燈光源裝置

YAMADA山田光學(xué)YP-150I YP-250I鹵素燈光源裝置 宏観観察用的照明設備,可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板制品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 YP-150I對應檢查6寸半導體晶片 YP-150I照度范圍φ30 YP-250I可對應檢查8英寸半導體晶片 YP-250I照度范圍φ60 YP-250I鹵素燈通風(fēng)機可選擇螺旋式風(fēng)扇或者管道通風(fēng)型 根據具體要求可以選擇黃光和白

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聲級計噪音計
聲級計噪音計

日本小野onosokkiLA-5560精密噪音計 日本小野onosokki精密噪音計、LA-5560精密聲級計 在本機背面的標牌上根據日本國內的計量法進(jìn)行標記「使用頻率范圍:20Hz ~ 12.5 kHz LA-5560精密聲級計這三款新機型集中體現了本公司多年來(lái)在數字測量和實(shí)時(shí)信號處理方面 積累起來(lái)的技術(shù)精華,不僅能對測量的動(dòng)態(tài)特

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Tsubosaka壺坂輝度計
Tsubosaka壺坂輝度計

Tsubosaka壺坂輝度計照度計LV CHECKER LC-5 TSUBOSAKA壺坂電機株式會(huì )社主營(yíng)產(chǎn)品:TSUBOSAKA輝度箱、TSUBOSAKA燈箱、TSUBOSAKA光源箱、 TSUBOSAKA鏡片測試儀、TSUBOSAKA快門(mén)測試儀、TSUBOSAKA光量?jì)x、TSUBOSAKA照度計

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紫外線(xiàn)探傷燈
紫外線(xiàn)探傷燈

產(chǎn)品簡(jiǎn)介 ?紫外線(xiàn)探傷燈是發(fā)射以365nm波長(cháng)為中心的長(cháng)波紫外線(xiàn)(UV-A)使含有熒光物質(zhì)缺陷指示圖形發(fā)光 ?主要應用于熒光滲透探傷·熒光磁粉探傷, ?也適用于利用皮膚·纖維屑·樹(shù)脂·油脂等雜質(zhì)·泄露檢查。 ?紫外線(xiàn)燈主要用于緊固件探傷,觀(guān)察表面缺陷使用,給出探傷結論。

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輝度箱
輝度箱

超薄型面光源 VLB – 9LGP – CRI 任意輝度値登録呼出可能 DC點(diǎn)燈而非閃爍 可進(jìn)行外部通信控制 不選擇安裝、保管空間

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日本山田光學(xué)高亮度鹵素光源
日本山田光學(xué)高亮度鹵素光源

東莞市極東機械零配件有限公司成立于2007年 是日本尼康公司(NIKON BUSINESS SERVICE)在中國設立的代理店 所有產(chǎn)品都是從日本集中購買(mǎi),統一調達,正規報關(guān)進(jìn)口.貨源穩定,質(zhì)量保證 主要經(jīng)營(yíng)日本制光學(xué)耗材,光學(xué)測量?jì)x器等 日本山田光學(xué)高亮度鹵素光源 廠(chǎng)家接到訂單生產(chǎn),納期要70-80天

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